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高精度数字式探规
名称: 高精度数字式探规
型号: NT12, NT30
品牌: JENA
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产品优点

全行程测量精度高—± 1 µm
重现性高— 0.05 µm
专为工业环境设计—防护等级IP64
结构紧凑,安装方便快捷
多种结构配置可供选择
坚固的设计—高的机械和热稳定性
为多点式测量设备特别设计
简化检测装置的构造
无需反复校准,测量长期稳定
球型探头可承受较大的径向力且摩擦力很小

产品规格

规 格:NT 12; NT 30

测量范围:12 mm; 30 mm
分 辨 率:0.05µm; 0.1µm; 0.2µm; 0.5µm; 1.0µm
移动速度:Max: 72m/min
参考点位置:上极限以下 5 ± 0.5mm 处
精度等级:±1 µm
测杆驱动方式:手 动 / 气 动
防护等级:IP 64
输出信号:1Vpp/11µApp/RS 422
电源电压:DC 5V±10%
线 长: 标准: 1.5m (Max: 30m )


主要市场

半导体设备、各种需要高精度、小行程的检测设备

应  用
直线度检测、平面度检测、几何公差测量、硅晶片的厚度测量、量块校准、直线导轨的误差测量、计量和生产控制、量块校准和测量设备的检查、多点检测设备、位置测量



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